杭州精源電子儀器有限公司
     
 
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PTQ—8晶體管綜合快速篩選臺

PTQ-8晶體管綜合快速篩選臺具有對半導體器件常溫測試, 高溫熱測(不需要外加烘箱),熱敏參數的快速篩選取代直流滿功率老煉三大功能,并可任意選用及組合使用。晶體管熱敏參數的快速篩選技術,是采用在短時間內(一般為數秒)對晶體管施加超穩態額定功率的辦法,使晶體管的結溫迅速接近或達到最高允許結溫TjM,通過快速檢測晶體管熱敏參數VBE、ICEO(或ICBO)和hFE ,及其在加功率前后的變化量、變化率△VBE、ICEOH和△hFE%,并以此為失效判據參量,淘汰超標的晶體管,達到剔除早期失效器件,改善產品批的質量和可靠性的目的,同時,所施加的超穩態額定功率模擬了被試管實際使用時可能出現的浪涌電壓、電流等應力,以考核被試管承受沖擊的能力。該快速篩選方法不僅能替代直流滿功率老煉,快速剔除有潛在缺陷的器件,而且更加科學合理,并已列為行業標準SJ/T10415—93及國軍標GJB128A—97。
 PTQ—8晶體管綜合快速篩選臺已在原快速篩選儀器上作了大大改進,不但能按規定進行晶體管熱敏參數的快篩,而且可作常規直流參數測試儀器使用,具有足夠的測試量程和精度,只要調用被測器件的型號,就能進入快速連續檢測。當被測器件由于穿通、二次擊穿和熱擊穿的瞬間,具有自動?;つ芰?。
● 主要功能

可取代直流滿功率老煉,每只器件老煉篩選過程(含測試)只需5秒。
■ 能測試篩選PNP、NPN大、中、小功率三極管。中文菜單式界面,操作簡便。
■ 能一次性自動測試、篩選VBE、VBC、hFE1、hFE2、ICEO、ICBO、IEBO、V(BR)CEO、V(BRCBO、V(BR)EBO、VCES、VBES的常溫、高溫值及常溫、高溫值變化量或變化率。并能任意選測全部或部分參數;若只選測常溫參數,每只器件只需1秒多。hFE1、hFE2 可以自動分10檔。
■ 可任意設定器件型號、測試條件及判據,并保存在系統中,通過瀏覽方式任意修改、調用。
■ 測試結果在大屏幕液晶顯示器(122×92mm)上同時顯示,并標識累計測試總量;超標器件自動聲光報警,并在液晶屏上顯示告警信息。
■ 每項參數的測試結果通過統計可獲得最大值、最小值、平均值。
■ 器件型號、測試時間、測試條件、失效判據、檢測結果及器件編號,可通過打印機打印輸出,或通過電腦串行口保存在電腦中。超標器件自動標識。
■ 測試時只需選擇器件型號即可進入連續檢測,測試口有否被測器件自動識別。
● 主要技術指標

參數名稱

測試范圍

測試條件

VBE、VBC

0.1V1V

1mA1A

hFE1、hFE2  

5500倍(可定制測達林頓管)

VCE1V25V,IC1mA6A

ICEO、ICBO 、IEBO

0.1uA10mA

10V1000V(VEB1V100V)

V(BR)CEO、V(BR)CBO、V(BR)EBO

10V1000V(V(BR)EBO5V100V)

50uA10mA

VCES、VBES

0.1V3V

IC10mA6A, IB1mA1A

加溫PCM范圍:VCE:5V~25VIC:0.1A~6A加溫時間T:0~10S


杭州精源電子儀器有限公司聯系電話:0571—82795250
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